本帖最后由 丹青-杜 于 2013-9-11 13:08 編輯 0 g8 q3 }" d2 d; {8 e% R/ j
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德國werth X射線斷層掃描三坐標(biāo)測量機 又稱 CT測量機 CT-CMMs 工業(yè)CT. V7 H5 d# U' S
5 A6 X2 C3 g! H- l5 w) a按照功率分為：130KV 150KV 190KV 225KV 300KV 325KV 450KV.8 a, Y) P) D4 C$ m0 s& F* k) h
9 V' `" l% g% B4 @3 ?Tomo X射線斷層掃描復(fù)合式三坐標(biāo)測量機
/ K: Q r7 I. c F) x
* ^5 N$ H9 X j& l德國Werth測量技術(shù)公司創(chuàng)立于1951年，總部位于德國著名的大學(xué)城吉森。世界上第一個數(shù)顯游標(biāo)卡尺就出自Werth。TOMO X-CT測量機，全球第一家將X射線掃描成像技術(shù)整合到三坐標(biāo)測量系統(tǒng)，實現(xiàn)產(chǎn)品無損可視化準(zhǔn)確測量，并可選配光學(xué)、光纖、探針、激光掃描等多種傳感器。對工件內(nèi)外部所有結(jié)構(gòu)尺寸全面的高精密測量，同時可實現(xiàn)工件材質(zhì)的缺陷分析。可對塑料、陶瓷、復(fù)合材料、金屬等多種材質(zhì)制成的產(chǎn)品進行無損尺寸測量和裝配評估等。壓縮測量周期的同時，保證了高品質(zhì)的要求。此機榮獲2005年度歐洲模具設(shè)計金獎。1 z9 j0 Q2 [$ G6 a" D& M
2 J) o& z$ E0 Y5 {' b. R9 j* gTomo測量機主要特點：5 G) h5 A z/ k2 y
◆ 全球首家將X射線斷層掃描成像技術(shù)整合到三坐標(biāo)測量系統(tǒng)，實現(xiàn)復(fù)雜部件高精度內(nèi)外尺寸全面測量9 }) H1 P. i) R
◆ 可選配第二個Z軸，配置其他傳感器（光學(xué)、探 針、光纖、激光等）& p; B/ j" V6 M+ R1 N( B; ?0 V
◆ Werth公司專利技術(shù)復(fù)合式傳感器技術(shù)，進一步保證 CT測量數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確
, w8 W+ r. D- e! y) _- ^◆ 堅固的花崗巖基座，保證機器具有高穩(wěn)定性8 |/ l; O/ }5 t$ k. m% ~
◆ 高精密機械軸承技術(shù)及線性導(dǎo)軌系統(tǒng)，確保實現(xiàn)最 高精度的測量+ ^: g- A8 ^+ R6 T+ X
◆ 無論從設(shè)計還是結(jié)構(gòu)，測量機完全滿足并超出X射線使用安全標(biāo)準(zhǔn)
: G6 e/ G5 n( `# X. ^% l◆ 基于Werth公司優(yōu)異的圖形處理及3D重構(gòu)技術(shù)，測量速度更快
4 k+ N f0 V' }9 \◆ Werth公司專利技術(shù)的X射線傳感器獨立校準(zhǔn)系統(tǒng)" k( g4 n- I! ]4 y5 Q: s: {9 g
◆ Werth公司專利技術(shù)的柵格斷層掃描技術(shù)：$ B3 y6 x: b0 v- v$ |% L& C5 t$ `
精密測量微小部件
7 {" L, X A. j$ F4 o% ~) M* J/ ?+ \ 掃描更大尺寸工件，提高分辨率
5 c+ P d2 O- q2 _$ ~ 擴展測量范圍
# R# E3 g4 x3 F# F◆ 測量軟件可快速3D重構(gòu)，也可進行2D測量
% ]2 a! A: [, b◆ 測量工件內(nèi)部尺寸的同時，也可實現(xiàn)材質(zhì)缺陷分析; k' t/ H5 F7 u
◆ 選用全球廣泛應(yīng)用的WinWerth軟件 (德國國家計量院PTB長度標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證) ，界面友好，操作簡單
5 S5 x( G6 r0 G E5 |◆ 可使用最佳擬合Bestfit及公差擬合Tolerancefit軟件進行輪廓匹配分析及三維CAD工件公差比對* x" w* m4 f( l, k+ `
◆ 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜尺寸測量，首件評估，逆向工程，質(zhì)量控制等
+ E& V% s/ Z8 t8 t' i$ n
8 }' k2 a6 ?/ x2 F$ m應(yīng)用領(lǐng)域: 模具行業(yè)、逆向工程、汽車行業(yè)、航空航天、精密機械加工、船舶等/ _) _: o) I, L% l i
@6 V i; G- q3 G: C! F
技術(shù)參數(shù)：0 @# L* c* {! ]: y
; Y( n( `$ ?- Q. a7 e3 V最大測量工件尺寸(直徑)
# Z2 K, W# s0 t' W" N9 n0 e" @- U350mm$ ^* f$ ^; ~$ Q9 i7 i& E
' |- \* x5 V# @% Y4 E
最大測量高度- {: Z# I$ F3 N' t- p' V* g
500mm
9 M) J Q* r, F" t1 {' q
4 y' r I1 l# i最大允許誤差 (用CT傳感器)- t* S6 @7 L7 I) {
(4,5+L/75) µm8 d8 P" n7 Q9 }# P$ ?' q
V7 d8 G7 d# k4 l/ [4 I+ {
最大允許誤差(E1:單軸精度)
2 D. D7 c* k& K* j C T' j3 Z(0,5+L/900)µm
- P! q) \* i" c$ y5 a+ i0 U, M( t2 c3 a, [- j, v
(E2:平面精度)/ s$ |; c( j V! _
((2,9+L/100) µm
* X9 G; E; ^. a3 N- k' _. Z- b* B4 R# h7 i
(E3:空間精度)
( S' w5 c5 C% x3 T; A$ c(4,5+L/75) µm
. ?- G, s9 u: z+ Q$ R1 R ^. G4 }9 d! G% H( b9 @* [( i; H4 Y, p
X射線源4 g- `& d+ |* t
130kV(150,190kV可選)3 L, A* k* G3 D6 C! f; L1 f$ e
225kV(300KV 325KV 450kV可選)
' m4 x, Z3 G2 p
$ d! \4 b9 p6 A5 U, pX射線探測器像素2 J! o. S3 ?2 E
2048x2048) N8 g, K6 {: t6 k9 `% @
% F, Q* F" J0 l, v. qX射線探測器尺寸8 u! ^- g( r, m" ~: o/ I, _
400x400mm
9 K/ P! b$ E8 F* M# H
, l9 [* T& ~9 B9 v: [6 O分辨率
7 ] j. l9 Q( c: Q- v0.1µm
+ I/ O8 B- l+ E6 ?9 X! k3 ?% D" @0 r# P7 H
定位速度* D2 q; {/ T# j+ P
150mm/s% c$ G0 Y( D% [# v% [0 c
& u( v8 a5 R# d( t: c1 P加速度
h/ T# d( E* h" F" ` o% l350 mm/s2: @+ M% \% F, l9 ~# s$ c
5 {) q. r( e7 ~" C/ b工作臺承重1 I8 q9 j' N% O t1 t3 U% s# R3 u
40kg
& e# W$ ?7 T5 ^$ Z7 V0 A9 N' Q& Y5 b. s& S! R( r
電源9 A: C( l) v7 m
230V +/-10%
7 l0 P3 {/ x" x* k& Q- n3x400V/N/PE- I& T1 F! N% l) F4 j* `3 \
9 V$ u; T1 p j; l) I1 Q氣壓
7 M5 x8 I/ n" x+ r, a7-10bar$ W' h8 x% }4 ^; Q/ W1 z
1 z+ b8 w3 T1 ?( K儀器自重
3 t9 l- v: H4 T4 Y3000kg~11000kg
# N+ i, {# s; |( s4 h9 C$ Z5 ?6 g- L( q- f3 Q0 \ |' O' P
! k4 ?9 J& f3 t; I6 b1). 依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ISO 10360和VDI/VDE 2617，使用TP200, WFP測量或CT傳感器選擇同等及更高精度探針修正或光學(xué)傳感器選用同等及更高精度探針修正1 S( C# x7 _* I! P! c
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg
' z1 k7 T' n) i: E& [" ]' |3 h8 U# u2 H7 E+ o+ o1 c: Q6 R: o# I
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發(fā)表于 2009-1-15 10:49:29
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